納米粒度及zeta電位儀具有極寬測試范圍的多用途分析儀,它是采用光子相關光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術的納米粒度儀和zeta電位分析儀,并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位,符合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術,是同時滿足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與zeta電位分析儀,可檢測粒徑從0.1nm到12.30μm,濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。
操作原理:
當激光照射到分散于液體介質中的微小顆粒時,由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移,導致散射光信號隨時間發生動態變化,該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關,而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小,顆粒大布朗運動速度低,反之顆粒小布朗運動速度高,因此動態光散射納米粒度及zeta電位分析儀技術是分析樣品顆粒的散射光強隨時間的漲落規律,使用光子探測器在固定的角度采集散射光,通過相關器進行自相關運算得到相關函數,再經過數學反演獲得顆粒粒徑信息。、
納米粒度及zeta電位儀具有以下技術特點:
1、可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位;
2、可測定固體zeta電位;
3、寬粒徑范圍(0.1nm~12.30μm),寬濃度范圍(粒徑測試:0.00001%~40%);
4、可精確測量各種濃度的懸浮液;
5、用戶友好的軟件;
6、多種樣品池選擇;
7、可選擇一次性樣品池;
8、結合線性相關器和對數相關器相結合的技術對各種樣品進行表征;
9、Zeta電位與納米粒度儀NANOPLUS可選擇自動滴定裝置控制懸浮液pH值。